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USPM-RU III反射仪可*确测量当前分光仪无法测量的微小、薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉。 是*适*测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。
测量ji?的?积
可以测量镜?的曲?，即使是样本表?上形成的?到Ø60 μm 或Ø30 μm 的细斑。这就提供了使?量?器检查镜头或其它光学组件的弯曲?的能?。

快速得出结果
使?平场光阑、线性传感器和?速分光光度测定法可以在数秒内完成快速、?再现性的测量。
采集到平场光阑的全部波长后数秒内完成测量。
减少了背?的?扰
?须代价?昂的步骤去防?背?反射即可实现表?反射率的*确测量。通过使?环形照明光的特殊光学元件来减少背?反射光，该特殊光学元件类似于共焦系统，能够阻挡所有离焦光反射。?l光学组件是球?、?球?，还是平?，USPM-RU III 都不需要样本进?防反射处理。

X-Y ?度图和L*A*B 测量
可以根据由分光反射率确定的光谱分光光度??法测量物体的颜?。

便于使?的App有助于?户得出通过/ 未通过结果
在反射系数和?度图?输?标准值，从?可以做出未通过/ 通过的决定。
主要测量因素：反射率，物体的颜?

主要应?
● 光学透镜、反射镜、棱镜、光学镀膜部品
● LED 反射器、MEMS 反射镜
技术参数